單顆粒分析所需的樣品篩選和數(shù)據(jù)采集更加輕松
全新的Glacios? 冷凍透射電子顯微鏡(冷凍 TEM)為各個領(lǐng)域的科學(xué)家?guī)砹艘环N全面、經(jīng)濟(jì)的冷凍 TEM 解決方案。它采用 200 kV XFEG 光學(xué)器件、行業(yè)領(lǐng)先的 Autoloader(冷凍樣品操作機(jī)器人),還有與 Krios G3i 冷凍 TEM 上相同的創(chuàng)新自動化易用功能。Glacios 冷凍 TEM 將這一切都綁定在很小的空間內(nèi),簡化了安裝過程。
內(nèi)建連通性確保在整個工作流中提供一條穩(wěn)固、無污染的通路,從樣品制備和優(yōu)化一直延伸到圖像采集和數(shù)據(jù)處理。Glacios 冷凍 TEM 可在單顆粒分析 (SPA) 工作流中用于預(yù)篩選樣品質(zhì)量,然后傳輸?shù)?Krios 冷凍 TEM 以進(jìn)行極限分辨率 SPA 數(shù)據(jù)采集。此外,Glacios 冷凍 TEM 還可以配置直接電子探測器和/或 Volta 相位板,以便構(gòu)成完整的獨立 SPA 數(shù)據(jù)采集解決方案。